薄膜厚度測量儀

一.產品名稱：薄膜厚度測量儀

二.產品型號：F10-AR

三.技術參數(shù)：

四.產品特點：

1.多重光譜比較

目標光譜與多重反射光譜比較–自動評估反射率，最小/最大位置，并得出明確的讀數(shù)結論。

2.量化殘余顏色

殘余顏色可以用基本的色彩空間系統(tǒng)形象化的顯示。比如 CIELAB 和 CIEXYZ。

3.用升級的硬涂層軟件測量厚度

可升級的 Filmetrics FFT演算法已經在幾百個硬涂層應用中使用。單擊鼠標可同時測量硬涂層和底漆層厚度。

4.操作簡單

Filmetrics 的*技術，幾乎排除常用的調整光譜儀，項目如積分時間調整與基準校正等，這代表著您只需要專注在光學鏡片上的工藝程序，而不是在量測設備的調整。

 五.膜厚測量儀眼鏡行業(yè)解決方案：

隨著眼鏡行業(yè)的不斷發(fā)展，對鏡片的要求越來越高。反射率、透射率、防紫外、加硬、防霧，另外一 些如 ESPF(EYE‐SUN PROTECTION FACTOR)等特種參數(shù)，這些方面各家鏡片廠家都在絞盡腦汁超過其他競 爭者，為了在鏡片市場占得先機。 Filmetrics 膜厚測量儀作為一款精度高、測試速度快、操作簡便的高性能設備，已經得到各大鏡片生產 廠家的認可。我們的客戶包括 Carl Zeiss, Essilor, Luxottica, Hoya, Chemilens, 康耐特, 華宏眼鏡廠等等，越 來越多的眼鏡客戶選擇我們。

1. 加硬膜的厚度測量 ，每片的所有操作測量時間只需要幾秒。

2.加硬復合層的測量 有些客戶會在加硬層上或下再增加一些功能層，如 anti‐fog 等，厚度也在幾個 um，我們可以同時測量 加硬層與這些功能層的厚度。

3.反射、透射率測試 我們可以很方便，快速的測量鏡片的反射及透射率，可以設定測量某個波段內的均值及極值（最大最 小值）。相對于傳統(tǒng)的分光光度計，F(xiàn)ilmetrics 的測試效率要高上幾十倍，這個并不是夸張，而是由于 測量原理決定的，傳統(tǒng)分光光度計是單個波長掃描的形式，每次只能掃一個波長的值，要達到一定的 速度，還必須犧牲掉掃描精度。而 Filmetrics 是采用 CCD 陣列構成的信號傳感器，在 380‐1050nm 波段 分布著 1000 多個像素點，可以一次性采集所有信號，整個測量過程只需 1‐2 秒鐘。

4.鏡架鍍膜測試 為了保證鏡架的耐磨性及美觀，現(xiàn)在廠家也會在鏡架上鍍膜，我們有專門的工具可以對細小的鏡架進 行測量。

5.定制化的測試服務 Filmetrics 提供軟件定制服務，如 ESPF 測量等的客戶專門算法的測量，可以設定到軟件中，一次得出結 果，而無需客戶后期再進行數(shù)據(jù)處理。