在儀器儀表分析方法中，光學(xué)分析法主要依靠電磁輻射與物質(zhì)的相互作用。而光學(xué)分析儀器
就是探測這種相互作用的工具。在市場上的各種光學(xué)分析一起種，他們的基本組成部分都有4
個(gè)，分別是信號發(fā)生器、檢測系統(tǒng)、信號處理系統(tǒng)和信號讀出系統(tǒng)。另外在現(xiàn)代話的儀器儀表
中，光學(xué)分析儀器的組成部分還包括了計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)。那么，接下來我們就分別為大家介紹
這幾種組成部分：
信號發(fā)生器是將被測物質(zhì)的某一物理或化學(xué)性質(zhì)轉(zhuǎn)變?yōu)榉治鲂盘?，如原子、分子吸收輻射產(chǎn)生
的原子、分子吸收光譜;物質(zhì)受熱、熱激發(fā)產(chǎn)生的原子發(fā)射光譜等，都是分析信號。產(chǎn)生分析
信號的輻射光源與吸收池組合系統(tǒng)為信號發(fā)生器。
人工晶狀體光學(xué)分析儀的功能要求
1.1采用Phase-Shifting Schlieren測量原理
1.2適合單焦、環(huán)曲面、多焦、多焦環(huán)曲面人工晶狀體
1.3自動(dòng)識(shí)別環(huán)曲面人工晶狀體的標(biāo)記
1.4高清晰光焦度分布圖
1.5動(dòng)態(tài)測量范圍-100D~+100D
1.6方便應(yīng)用于自動(dòng)化生產(chǎn)線
1.7一次性校準(zhǔn)
1.8全自動(dòng)環(huán)曲面人工晶體測定
1.9適用于干濕檢測環(huán)境
2.0可自定義程序
人工晶狀體光學(xué)分析儀的硬件規(guī)格：
2.1檢測原理：Phase-Shifting Schlieren測量原理
2.2檢測區(qū)域：8x8mm2
2.3通光孔徑：最大直徑為8mm
2.4光線波長546nm
2.5測量速度：4至10秒，具體速度取決于檢測的區(qū)域大小以及檢測的類型
2.6光焦度測量范圍：70D（8mm孔徑下）、100D（5mm孔徑下）
2.7測量精度：0.001D
2.8可重復(fù)性：優(yōu)于0.005D
2.9可重復(fù)性方差：0.01D（ISO5725標(biāo)準(zhǔn)）
3.0外形尺寸：170x220x590（mm）
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